东莞市中科汇珠半导体有限公司
首页 > 产品中心 > 测量/计量仪器 > 检测和分析碳化硅外延表面缺陷
产品详情
检测和分析碳化硅外延表面缺陷
检测和分析碳化硅外延表面缺陷的图片
参考报价:
面议
品牌:
中科汇珠
关注度:
33
样本:
暂无
型号:
检测和分析 Si℃ 外延中的表面缺陷和晶体缺陷
产地:
广东
信息完整度:
典型用户:
暂无
索取资料及报价
认证信息
高级会员 第 1
名 称:东莞市中科汇珠半导体有限公司
认 证:工商信息已核实
访问量:438
手机网站
扫一扫,手机访问更轻松
产品分类
公司品牌
品牌传达企业理念
产品简介

技术参数:

1)微分干涉镜头:532 nm波段光源

2)暗场镜头:457nm波段光源

3)PL镜头:313波段光源

4)PLX镜头:355波段光源

5)自动聚焦测量范围:+1.5mm

6)XYZ平台:移动范围550*400*5(XYZ),重复定位精度0.1um,测量精度:±0.5um

7)重复性:CV<5%

8)致命缺陷测试准确性:>95%


  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
我要咨询关闭
  • 类型:*     
  • 姓名:* 
  • 电话:* 
  • 单位:* 
  • Email: 
  •   留言内容:*
  • 让更多商家关注 发送留言